Serie LIP 6000 Dplus

Los sistemas de medición Dplus de HEIDENHAIN pueden medir varios grados de libertad dentro de un eje. Pueden medir las desviaciones de un eje y compensarlas mediante el eje adyacente.

El soporte graduado presenta dos pistas de graduación separadas en una disposición diagonal de ±45°. Esto permite registrar de forma directa y altamente precisa la dirección de medición secundaria y la longitud de medición total.

Además de una alta precisión, el LIP 6031 Dplus también ofrece movimientos de recorrido muy rápidos. Con pasos de medición de hasta 172 picómetros y una velocidad de desplazamiento de hasta 240 m/min, el LIP 6031 Dplus está diseñado para aplicaciones de precisión altamente dinámicas.

Las dos pistas de graduación separadas de la regla del Dplus y sus dos cabezales captadores permiten la medición de hasta tres grados de libertad. Esta tecnología hace posible llevar a cabo mediciones requeridas complejas con un diseño sencillo y compacto.

Con el cabezal captador del LIP 6031 Dplus se pueden registrar dos grados de libertad al mismo tiempo. Mediante la interfaz EnDat 3 se pueden transferir los dos valores de posición medidos a la electrónica subsiguiente con una sola conducción.

Referenciación simultánea de ambas direcciones de medición: cada pista de graduación del LIP 6031 Dplus cuenta con una marca de referencia integrada. Esto implica que se dispone de valores de posición absolutos tanto para la dirección de medición principal como para la secundaria.